中圖儀器白光干涉儀品牌廠家(SuperViewW系列)以以0.1nm核心分辨率為突破,結合白光干涉技術與智能化功能,解決材質適配窄、精度不穩定、粗糙度與輪廓度需分機測量、批量檢測效率低等測量難題。
更新時間:2025-12-17
產品型號:SuperViewW1
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中圖儀器0.005nm粗糙度RMS重復性白光干涉儀形貌重復性達0.1nm,臺階測量準確度僅0.3%,符合ISO 25178、ISO 10610等300余種國內外標準。基于白光干涉技術與復合型EPSI重建算法,連續10次測量Sa=0.2nm硅晶片,數據偏差<0.001nm,為工藝優化、產品質檢提供可信的量化依據。
更新時間:2025-11-25
產品型號:SuperViewW1
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SuperViewW工業表面3D檢測白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-11-17
產品型號:SuperViewW1
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SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數,一站式解決超精密測量精度不足、多材質適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景,數據驅動檢測,賦能精密制造升級。
更新時間:2025-11-11
產品型號:SuperViewW1
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中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀一鍵完成單/多區域自動測量、批量分析,編程測量功能可預設流程實現一鍵操作,單個精細器件測量用時短,大幅提升檢測 throughput。
更新時間:2025-11-07
產品型號:SuperViewW1
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SuperViewW工業表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-10-28
產品型號:SuperViewW1
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